检测地点
检测周期
报告资质
样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
检测标准:半导体集成电路失效分析程序和方法 GJB3233-1998 5.2.4
检测对象:半导体集成电路
检测项目:X射线检查
检测标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 1103/2.3
检测对象:塑封半导体集成电路
检测项目:X射线检查
检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2012.1
检测对象:塑封半导体集成电路
检测项目:X射线检查
检测标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法2076
检测对象:电子元器件通用电子产品
检测项目:X射线检查
检测标准:电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法209
检测对象:电子元器件通用电子产品
检测项目:X射线检查
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