半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法检测

电议

间歇工作寿命半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1037

检测项目

间歇工作寿命

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1037-只做：1. VB电源范围：0～25V/40A，VC电源范围：0～60V/20A； 2. 试验箱的间歇通断的时间和次数可调控，间歇通断时间范围：1～3000s可调，间歇通断次数范围：1～10000次可调

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。