硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法检测

电议

体内少数载流子寿命硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 GB/T1553-2009

检测项目

体内少数载流子寿命

硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 GB/T1553-2009-只用附录A, 高频光电导衰减法

支持报告类型：电子报告、纸质报告

支持报告语言：中文报告、英文报告、中英文报告

报告盖章资质： CMA；CNAS

服务周期： 3-10个工作日（特殊样品除外）

服务地区：全国

检测用途：电商平台入驻；商超卖场入驻；产品质量改进；产品认证；出口通关检验等

取样方式：快递邮寄或上门取样

样品要求：样品数量及规格等视检测项而定

服务详情

检测标准

检测项目体内少数载流子寿命

检测标准号 GB/T 1553-2009

检测方法名硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 GB/T1553-2009

限制说明只用附录A, 高频光电导衰减法

服务简介

服务范围：GB、GB/T、FZ/T品控检测、各类电商平台、商超卖场入驻质检。

服务流程

合作机构资质

报告样例

平台优势

百检介绍

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《GB/T1553-2009》硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
《GB/T 26068-2018》硅片和硅锭载流子复合寿命的测试非接触微波反射光电导衰减法 GB/T 26068-2018 第9条款
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