标准简介
本标准规定了应用扫描电镜X射线能谱仪（包括装有X射线能谱仪的电子探针仪）对镀金制品表面金及金合金单层均匀镀层成分的非破坏性分析测量方法。本标准适用于表面镀金及金合金，其镀层厚度为0.2μm以上，3μm以下范围内的成分测量(不包括基体和金镀层材料相近的镀层成分的测量)。英文名称：Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX
标准状态：作废
替代情况：被GB/T 17362-2008代替
中标分类：仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器
ICS分类：成像技术>>37.020光学设备
发布部门：国家质量技术监督局
发布日期：1999-04-01
实施日期：1999-01-02
作废日期：2009-05-01
出版日期：2004-04-16
页数：平装16开， 页数：7， 字数：10千字
前言
电子光学与其他物理光学仪器相关标准
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