标准简介
IEC电子器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。英文名称:Semiconductor devices --Integrated circuits --Part 2:Digital integrated circuits --Section five --Blank detail specification for complementary MOS digital integrated circuits,series 4 000B and 4 000UB
标准状态:现行
替代情况:GB/T 9424-1988
中标分类:电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
ICS分类:电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门:国家质量技术监督局
发布日期:1988-06-02
实施日期:1999-06-01
出版日期:2004-05-07
页数:平装16开, 页数:12, 字数:18千字
前言
半导体集成电路相关标准