GJB 1420B-2011 半导体集成电路外壳通用规范

百检网 2021-07-14

标准号：GJB 1420B-2011
中文标准名称：半导体集成电路外壳通用规范
英文标准名称：General specification for packages of semiconductor integrated circuits
标准类型：L94;L56
发布日期：2011/12/25 12:00:00
实施日期：2012/4/1 12:00:00
中国标准分类号：L94;L56
引用标准：GB/T 7092;GB/T 16526;GJB 179A-1996;GJB 360;GJB 546;GJB 548;GJB 3014;SJ 20129;SJ 20151;YB/T 5231-2005;YB/T 5235-2005
适用范围：本规范规定了军用半导体集成电路外壳（以下简称外壳）生产和交付的一般要求，以及外壳应满足的质量和可靠性保证要求。本规范适用于半导体集成电路用的多层陶瓷外壳。外壳一般指底座。

百检能给您带来哪些改变？

1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；

2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；

3、工程师一对一服务，让检测更精准；

4、免费初检，初检不收取检测费用；

5、自助下单快递免费上门取样；

6、周期短，费用低，服务周到；

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；

8、检测报告权威有效、中国通用；

客户案例展示

相关商品

上一篇《GJB 4157/17-2011 CTS406型高可靠有引线2类多层瓷介固定电容器详细规范》

下一篇《GJB 1432/6-2011 RMK3216型片式膜固定电阻器详细规范》

版权与免责声明

①本网注名来源于“互联网”的所有作品，版权归原作者或者来源机构所有,如果有涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一个月内与本网联系，联系邮箱service@baijiantest.com，否则视为默认百检网有权进行转载。

②本网注名来源于“百检网”的所有作品，版权归百检网所有，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。想要转载本网作品，请联系:service@baijiantest.com。已获本网授权的作品，应在授权范围内使用，并注明"来源：百检网"。违者本网将追究相关法律责任。

③本网所载作品仅代表作者独立观点，不代表百检立场，用户需作出独立判断，如有异议或投诉，请联系service@baijiantest.com

相关问答

最新资讯