BS EN 60749-29-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.闭锁试验

百检网 2021-07-15

标准号：BS EN 60749-29-2004
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.闭锁试验
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Latch-up test
标准类型：L40
发布日期：2004/3/9 12:00:00
实施日期：2004/3/9 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01

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