集成电路寿命测试系统(16 Slot老化炉)

百检网 2021-11-11
  • 详细信息

    主要技术指标:

    Pattern深度32M; Clack Rate 25M; *高到150摄氏度 16 slot

    主要功能:

    通过提升半导体集成电路工作电压、工作温度等应力因子,可以在一定时间内加速其老化死亡,使用统计学,依据标准推算IC集成电路寿命 应用与半导体设计、制造领域,帮助客户提升产品品质、推算产品可靠性

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    6、周期短,费用低,服务周到;

    7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;

    8、检测报告权威有效、中国通用;

    客户案例展示

    • 上海朗波王服饰有限公司
    • 浙江圣达生物药业股份有限公司
    • 天津市长庆电子科技有限公司
    • 上海纽特丝纺织品有限公司
    • 无锡露米娅纺织有限公司
    • 东方电气风电(凉山)有限公司
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