中心从事金属材料、半导体材料、矿物、水质等的成分分析和分析测试技术研究。所采用的方法包括化学法和仪器法，能够检测样品中的常量、微量、痕量、超痕量成份。
化学分析：重量法、容量法、分光光度法
仪器分析：
序号 | 检测手段 | 服务项目 |
1 | 辉光放电质谱（GDMS） | 金属材料中ppb级及其以上含量的杂质元素分析，可以检测5N、6N高纯铝、铜、锌、镍、钴以及多晶硅材料中的痕量和超痕量杂质元素。 |
2 | 电感耦合等离子体质谱（ICP-MS） | 高纯金属、半导体材料、塑料、药品、食品、生物制品中的痕量多元素测定。该仪器可与氢化物发生器联机使用，使被测元素测定下限降低1~2个数量级；与稀土微柱分离装置联用，能够在线去除稀土基体，使被测稀土杂质的测定下限降低2~3个数量级。 |
3 | 电感耦合等离子体发射光谱（ICP-AES） | 金属材料中微量、常量杂质元素的分析，如铜合金、铝合金、稀土金属、稀有难熔金属、电子材料等，充分利用该仪器可以提供全波长覆盖的分析谱图，具有多元素同时测定的功能。 |
4 | 直流电弧原子发射光谱(DC-AES) | 各类有色纯金属、合金或金属化合物中杂质元素的定量分析，各类有色金属元素的定性分析。 |
5 | 火花源光电直读光谱(Spark-OES) | 铝合金、铜合金、镁合金和钛合金中的合金元素和微量元素，以及低碳、低硫、低磷和低氮元素分析 |
6 | X射线荧光光谱（XRF） | 金、银、铂首饰的定量分析、金属材料的定性、半定量分析 |
7 | 原子吸收光谱(AAS) | 金属材料中碱金属和碱土金属元素分析 |
8 | 原子荧光光谱（AFS） | 适用于As、Sb、Hg、Se、Pb、Bi、Sn、Ge、Te、Cd、Zn等十一种元素痕量水平的日常监测 |
9 | 离子色谱（IC） | 金属材料中的阴离子的分析。同时，该仪器可以进行有色金属材料中杂质的分离富集，并与质谱联用，进一步提高ICP-MS的选择性和灵敏度，并有效地降低其检出限，该技术正逐步应用于国家标准分析方法。 |
10 | 氢测定仪 | 金属材料中氢含量的测定，可以检测试样中低至百万分之一的氢。 |
11 | 氧氮测定仪 | 金属材料中的O、N的测定 |
12 | 碳硫测定仪 | 金属材料中的C、S的测定 |
13 | 自动电位滴定仪 | 部分金属材料中主成分的测定 |
14 | 微波消解工作站 | 陶瓷材料、贵金属、难溶金属等的溶解 |