标准简介
本部分代替GB/T 4937-1995《半导体器件 机械和气候试验方法》第Ⅰ篇总则。本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。英文名称：Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 4937-1995
中标分类：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
ICS分类：电子学>>31.080半导体器件
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2006-08-23
实施日期：2007-02-01
出版日期：2007-02-01
页数：6页
前言
半导体分立器件综合相关标准
