GB/T 4937.11-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法

百检网 2022-10-24

标准简介

GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化--双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气?空气温度循环又可以采用快速温度变化--双液槽法试验时,优先采用空气-空气温度循环试验。本试验也可采用少量循环(5次~10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明,本试验被认为是破坏性的。本试验与GB/T 2423.22-2002基本一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。
英文名称:Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11:Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method
标准状态:现行
中标分类:电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
ICS分类:电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合
发布部门:国家市场监督管理总局.
发布日期:2018-09-17
实施日期:2019-01-01
出版日期:2018-09-01
页数:8页

前言

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