标准号:KS D ISO 18118-2005
中文标准名称:表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
英文标准名称:Surface chemical analysis-Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy-Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
标准类型:G04
发布日期:2005/12/28 12:00:00
实施日期:2005/12/28 12:00:00
中国标准分类号:G04
国际标准分类号:71.040.40
适用范围:이 규격은 오제(Auger) 전자 분광기와 X선 광전자 분광기를 사용하여, 균질 재료의 정