什么是接线端子温升测试？

接线端子温升试验是将接线端子（或连接器）及其绝缘外壳作为一个整体在额定电流、过电流以及短路情况下进行测试。接线端子因焦耳效应引起的温升应尽可能小， 这就要求回路中的接触电阻很低。接线端子温升测试需记录室温下端子施加测试电流后的温升数据。

除非另作规定，例如指定使用与电气设备一致的电流值，否则端子或连接器在试验中一律采用各自的额定电流值。符合连接器标准IEC512-3、接线端子标准IEC-60998-1/EN 60998-1/DIN-VDE 0613标准第1部分的接线端子（或连接器）以及符合IEC-60947-7-1/EN 60947-7-1/DIN-VDE 0611标准第1部分的轨装式接线端子在试验中的温升值均不得超过45k，连接器标准规定温升不超过30K为原则。

例如：环境温度为25℃，测量温度为70℃，这时温升就是70℃-25℃=45K，超过这个温度，接线端子就不合格。

用户在选择接插式连接器时需注意连接器的结构要求及电流承载能力的大小。