存储器测试系统

主要技术指标：

•48个双向RF端口，用于Tx和Rx测试 •可选高功率RF，*高可达+35 dBm •高达6 GHz的RF信号生成和采集，带有200 MHz矢量带宽 •完整的RF测量库，用于EVM，功率电平伺服，ACP，IP3，噪声系数，频谱模板和Tx功率，适用于GSM，CDMA2000，EV-DO，TD-SCDMA，WCDMA，LTE，LTE**，802.11 a / b / g / n / p / j / ac / ah / af，以及蓝牙1.x到5.0 LE •谐波测量高达18 GHz •256个数字通道 •4个高功率直流通道（3 A连续和10 A突发） •8个DC通道（每通道500 mA） •4通道数字转换器10位，5 GS / S，1.5 GHz（1 GB） •8位数字化仪12位，60 MS / s，60 MHz（512 MB） •2通道AWG 16位，400 MS / s

主要功能：

NI半导体测试系统（STS）是一种集成的自动测试解决方案（ATE），用于晶圆或封装零件的半导体混合信号器件测试。 NI STS由一种将NI仪器和I / O硬件与多功能软件相结合的配置组成一个灵活的半导体测试解决方案。 NI STS软件包括开发，调试和部署测试程序所需的软件。 这里提出的系统配置描述了与工业标准第三方控制器，负载板和对接板接口的可交付测试器。 NI提供直观的半导体测试软件应用程序，允许用户轻松构建引脚/通道映射，STDF数据库集成，处理程序/探测器接口以及其他支持真正多端点测试的功能。

服务内容：

测量数据： •S参数 •蜂窝：LTE / LTE-Advanced，WCDMA，EVDO，CDMA2k，GSM / Edge等。 •WLAN 802.11a，b，g，n，ac，ah •蓝牙 •通用：频谱分析，解调 •**：包络跟踪，数字预失真（DPD） •噪音系数

收费标准：

2000元/样品

用户须知：

请联系重点实验室相关对外服务负责人