TEM原理
透射电子显微镜（缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角 散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。
仪器技术参数
- TWIN物镜系统, 点分辨率 0.27nm
- 样品*大倾角 +/- 70°
- Cryo液氮冷冻样品台及冷冻转移设备
- 全自动化的数据采集和数据处理系统
送样要求
粉状样品1-5g之间，能把3-5mm直接样品填满即可。块状样品不能大于5mm宽，高度小于5mm.
应用领域
金属、非金属及复合材料的观察分析；
纳米粉及纳米粉体的形貌观察和粒度测量统计；
微区成分的定性、定量计算，并对重点区域做元素分布图；
可对固体材料的表面涂层、镀层进行结合情况观察和厚度测量；
机械设备、压力容器、管道及汽车零件的失效分析。
适用标准
专业、高效、精准、高性价比是剂拓公司的服务宗旨。
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