标准简介
本标准规定了分析电镜（AEM/EDS即透射电子显微镜或装有扫描附件的透射电镜——X射线能谱仪，测量比例因子（K A-B）所用纳米薄标样的技术要求、检测条件和检测方法。英文名称：General specification of nanometer thin STANDARD specimen for analytical transmission electron microscopy (AEM/EDS)
标准状态：作废
替代情况：被GB/T 18735-2014代替
中标分类：仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器
ICS分类：成像技术>>37.020光学设备
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2002-05-22
实施日期：2002-12-01
作废日期：2015-03-01
出版日期：2002-12-01
页数：平装16开， 页数：6， 字数：10千字
前言
电子光学与其他物理光学仪器相关标准
