标准简介
本标准规定了分析电镜(AEM/EDS)即透射电子显微镜或装有扫描附件的透射电镜配备 X 射线能谱仪(EDS),测量比例因子 KA-B所用纳米薄标样的技术要求、检测条件和检测方法。 本标准适用于采用分析电镜(AEM/EDS)进行无机薄样品的微区元素定量分析。本标准不包括有机物和生物标样。英文名称：Microbeam analysis—General guide for the specification of nanometer thin reference materials for analytical transmission electron microscope(AEM/EDS)
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 18735-2002
中标分类：化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法
ICS分类：化工技术>>分析化学>>71.040.50物理化学分析方
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2014-07-24
实施日期：2015-03-01
出版日期：2015-03-01
页数：21页
前言
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其*新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T4930—2008 微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则(ISO14595:2003,IDT)GB/T21636—2008 微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语(ISO23833:2006,IDT)
.png)
