DIN EN 60749-17-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐射

百检网 2021-07-14

标准号：DIN EN 60749-17-2003
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐射
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2003); German version EN 60749-17:2003
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：2003/9/1 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
适用范围：The neutron irradiation test is performed to determine the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment. The tests described herein are applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices. This test is intended for military- and space-related applications. It is a destructive test.

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