DIN EN 61967-2-2006 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频TEM辐射室法(IEC 61967-2-2005).德文版本EN 61

百检网 2021-07-15

标准号：DIN EN 61967-2-2006
中文标准名称：集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频TEM辐射室法(IEC 61967-2-2005).德文版本EN 61967-2-2005
英文标准名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method (IEC 61967-2:2005); German version EN 61967-2:2005
标准类型：L56
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：2006/3/1 12:00:00
中国标准分类号：L56
国际标准分类号：31.200;33.100.20
引用标准：IEC 60050-131-2002;IEC 60050-161-1990;IEC 61967-1

百检能给您带来哪些改变？

1、检测行业全覆盖，满足不同的检测；

2、实验室全覆盖，就近分配本地化检测；

3、工程师一对一服务，让检测更精准；

4、免费初检，初检不收取检测费用；

5、自助下单快递免费上门取样；

6、周期短，费用低，服务周到；

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质；

8、检测报告权威有效、中国通用；

客户案例展示

相关商品

上一篇《ASTM E2503-2007 篮式和搅拌溶解器具合格的标准实施规范》

下一篇《DIN EN 2243-5-2006 航空航天系列.非金属材料.结构胶粘剂.试验方法.第5部分:老化试验》

版权与免责声明

①本网注名来源于“互联网”的所有作品，版权归原作者或者来源机构所有,如果有涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一个月内与本网联系，联系邮箱service@baijiantest.com，否则视为默认百检网有权进行转载。

②本网注名来源于“百检网”的所有作品，版权归百检网所有，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。想要转载本网作品，请联系:service@baijiantest.com。已获本网授权的作品，应在授权范围内使用，并注明"来源：百检网"。违者本网将追究相关法律责任。

③本网所载作品仅代表作者独立观点，不代表百检立场，用户需作出独立判断，如有异议或投诉，请联系service@baijiantest.com

行业热点