IEC60749-29-2011 半导体器件机械和气候试验方法第29部分：锁定试验

百检网 2021-07-23

标准号：IEC60749-29-2011
中文标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第29部分：锁定试验
英文标准名称：Semiconductordevices?Mechanicalandclimatictestmethods?Part29:Latch-uptestDispositifs?semiconducteurs?Méthodesd'essaimécaniquesetclimatiques?Partie29:EssaideverrouillageEdition2.0[Superseded:IECPAS62181]
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
部分代替标准：IEC60749-29-2003

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