BS EN 60749-5-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.稳态温度湿度偏差寿命试验

百检网 2021-08-04

标准号：BS EN 60749-5-2003
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.稳态温度湿度偏差寿命试验
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Steady-state temperature humidity bias life test
标准类型：L40
发布日期：2003/6/18 12:00:00
实施日期：2003/6/18 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
适用范围：This part of IEC 60749 provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments. NOTE This test is in general accord with IEC 60068-2-3 (withdrawn)

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