标准号：BS EN 60749-38-2008
中文标准名称：BS EN 60749-38-2008 半导体器件.机械和气候试验方法.带存储器的半导体器件用软错误试验法
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
发布日期：2008-06-30
实施日期：2008-06-30
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
BS EN 60749-38-2008 BS EN 60749-38-2008 半导体器件.机械和气候试验方法.带存储器的半导体器件用软错误试验法
百检网 2021-08-19
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