磷化铟检测去哪里做?磷化铟(InP)是重要的Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体材料之一，是继Si、GaAs之后的新一代电子功能材料。
样品类型
磷化铟晶片，纳米磷化铟，磷化铟晶圆，半绝缘磷化铟，磷化铟靶材，磷化铟外延片等。
检测指标
晶体缺陷检测。
检测标准
DIN 50454-2-1994半导体技术材料的检验;Ⅲ-Ⅴ-化合物半导体的单晶中的非定位蚀刻孔密度的测定.第2部分:磷化铟
GB/T 20230-2006磷化铟单晶
GB/T 36706-2018磷化铟多晶
SJ 3248-1989重掺砷化镓和磷化铟载流子浓度的红外反射测试方法
SJ/T 11489-2015低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
SJ 21475-2018磷化铟单晶片几何参数测试方法
SJ 21476-2018磷化铟单晶锭退火工艺技术要求
SJ 21477-2018磷化铟多晶材料合成工艺技术要求
SJ 21478-2018磷化铟单晶生长工艺技术要求
SJ 21479-2018磷化铟晶片研磨工艺技术要求
百检网检测特色
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磷化铟检测流程
1、邮寄寄样或上门取样
2、工程师初步检测
3、根据试验复杂程度及样品数量报价
4、双方确定签订保密协议，实验室开始实验
5、完成实验：检测周期一般在7-15个工作日(部分特殊试验周期会延长)，可咨询工程师
6、出具检验报告，后期服务。
