透射电子显微镜

百检网 2021-11-11

JEOL JEM-2100 透射电子显微镜可同时进行材料纳米尺度的高分辨像观察与选区电子衍射分析，配合能谱仪可以实现元素成分的定性与定量分析。在成像系统方面，可以直接拍摄电子衍射花样，并通过Gatan DigitalMicrograph软件进行指标化标定，可完全取代传统的底片拍摄，能方便的直接观察形貌，分析材料内部的相组成、元素分布、生长方向以及晶体中的各种缺陷，是研究材料微观结构*有力的工具之一。广泛应用于纳米材料、催化剂、高分子材料、金属材料、半导体材料、生物医药材料等方面。

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