皮革物理和机械试验表面涂层厚度的测定

百检网 2022-09-22

1范围
本标准规定了皮革表面涂层厚度的测定方法。本标准适用于各种具有涂层的皮革。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然面,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的*新版本。凡是不注日期的引用文件,其*新版本适用于本标准。
QB/T 2706皮革﹐化学、物理,机械和色牢度试验︰取样部位(QB/T 2706—2005.1SO 2418:2002.MOD)
QB/T 2707皮革物理和机械试验︰试样的准备和调节(QB/T 2707一2005,1SO 2419:2002.MOD)
3原理
垂直于皮革涂层表面切割皮革,用显微镜观察并测量切口处皮革表面涂层的厚度。结果可以表示为涂层厚度,也可以表示为涂层厚度占总厚度的百分比。
4仪器设备
4.1光学显微镜或电子扫描显微镜,至少20 倍的放大倍率。4.2手术刀,显微镜采用上光源或使用电子扫描显微镜时适用。4.3组织切片机,显微镜采用下光源时适用。
4.4显微测微尺,精确到0.001 mm.
5取样和试样准备
5.1按QB/T 2706取样.按QB/T 2707进行预处理。
5.2切取3片约10 mm× 10 mm的试样,每片试样按5.3或5.4制作纵切面切片。
注;如果被测试的一批样品超过⒉张,则只要每张皮取Ⅰ片试样,保证试样总数不少于3片。5.3用手术刀(4.2)切穿皮革,确保在切割过程中手术刀的切边垂直于涂层表面。
注﹔按5.3制作的纵切面切片适用于使用上光源的光学显微镜或电子扫描显微镜测试。5.4用组织切片机切取适用于下光源光学显微器测试的试样纵切面切片。

6操作步骤
6.1 使用带有显微测微尺的光学显微镜测试
6.1.1把按5.3或5.4制作的剖面切片放在显微镜下。调整切片位置,使显微测微尺的十字线或一个主刻度与涂层和皮革的分界面(线)对齐。如果涂层和皮革的分界面(线)成波浪形﹐则使显微测微尺的十字线或主刻度处于涂层和皮革的波浪形分界面(线)的波峰和波谷的中间位置(如图1所示)。读取分界面(线)至涂层外表面的刻度数,即为涂层厚度。

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