标准简介
本标准规定了硅晶体中间隙氧含量径向变化的测量方法。本标准适用于室温电阻率大于0��1Ω·cm的硅晶体中间隙氧含量径向变化的测量。英文名称：Test method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon
标准状态：作废
替代情况：被GB/T 14144-2009代替
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H26金属无损检验方法
ICS分类：29.040.30
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1993-02-06
实施日期：1993-10-01
作废日期：2010-06-01
页数：平装16开， 页数：7， 字数：10千字
前言
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