标准简介
本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测定方法。本标准适用于非本征半导体材料导电类型的测定，其中较详细地规定了锗和硅导电类型的测试方法。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果，对于非均匀试样，可在其表面上测出不同导电类型区域。本标准方法不适用于分层结构试样，如外延片的导电类型的测定。英文名称：STANDARD methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials
标准状态：作废
替代情况：GB 1550-1979 GB 5256-1985;被GB/T 1550-2018代替
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：冶金>>金属材料试验>>77.040.01金属材料试验综合
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1997-06-03
实施日期：1997-01-02
作废日期：2019-11-01
出版日期：2004-04-01
页数：平装16开， 页数：11， 字数：16千字
前言
金属物理性能试验方法相关标准
