标准简介
本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。 本标准适用于硅、锗非本征半导体材料导电类型的测试，其他非本征半导体材料可参照本标准测试。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得可靠结果；对于导电类型不均匀的材料，可在其表面上测出不同导电类型区域。 本标准不适用于分层结构材料（如外延片）导电类型的测试。英文名称：Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 1550-1997
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：冶金>>77.040金属材料试验
发布部门：国家市场监督管理总局.
发布日期：2018-12-28
实施日期：2019-11-01
出版日期：2019-01-01
页数：16页
前言
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