标准简介
本标准规定了硅和锗单晶体内少数载流子寿命的测量方法。本标准适用于非本征硅和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的测量。英文名称：STANDARD test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
标准状态：作废
替代情况：替代GB 1553-1979;GB 5257-1985;被GB/T 1553-2009代替
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：冶金>>金属材料试验>>77.040.01金属材料试验综合
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1997-06-03
实施日期：1997-01-02
作废日期：2010-06-01
出版日期：2004-04-01
页数：平装16开， 页数：17， 字数：29千字
前言
金属物理性能试验方法相关标准
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