标准简介
本标准规定了在一定光照条件下，用目测检验硅单晶单面抛光片表面质量的方法。本标准适用于硅抛光片表面质量检验。英文名称：STANDARD method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection
标准状态：作废
替代情况：替代GB 6624-1986;被GB/T 6624-2009代替
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：29.040.30
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1995-04-18
实施日期：1995-01-02
作废日期：2010-06-01
页数：平装16开， 页数：5， 字数：5千字
前言
金属物理性能试验方法相关标准
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