标准简介
本技术条件适用于电子探针、X射线微区定量分析用的标准样品。英文名称：General specification of electron probe microanalysis STANDARD specimen
标准状态：作废
替代情况：替代GB 4930-1985;被GB/T 4930-2008代替
中标分类：>>>>A5 仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器
ICS分类：计量学和测量、物理现象>>光学和光学测量>>17.180.30光学测量仪器
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1993-08-30
实施日期：1994-07-01
作废日期：2008-10-01
页数：平装16开， 页数：10， 字数：16千字
前言
光学测量仪器相关标准
