标准简介
本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。 本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。英文名称：Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门：国家市场监督管理总局.
发布日期：2018-06-07
实施日期：2019-01-01
出版日期：2018-06-01
页数：20页
前言
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