GB/T 32998-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求 现行

标准号：GB/T 32998-2016
中文标准名称：表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求
英文标准名称：Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction
标准状态：现行,发布于2016-10-13; 实施于2017-09-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2016-10-13
实施日期：2017-09-01
中国标准分类号：71.040.40
国际标准分类号：71.040.40
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
执行单位：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：中国科学技术大学物理学院
采标情况：本标准等同采用ISO国际标准：ISO 29081:2010。
采标中文名称:表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求。
相近标准：20131698-T-469 表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求; GB/T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告; 20071057-T-469 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告; GB/T 32565-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求; 20131699-T-469 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求; GB/Z 32494-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析; 20110881-T-469 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析; 20201568-T-469 表面化学分析—电子能谱—X射线光电子能谱峰拟合的*低报告要求; 表面化学分析—电子能谱—X射线光电子能谱峰拟合的*低报告要求; GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告