JEM-2100F 高分辨透射电子显微镜

1.设备简介

  JEM 2100F 是一款先进的透射电子显微镜，在同类显微镜中，它的分析功能*强、获得的图像质量*高。束斑尺寸在0.5nm以下，可以快速地获得超高分辨率图像，使原子尺度的结构分析更简便。

2.设备功能

  基础研究、显微形貌观察、固体物质微结构研究、高分辨显微术、晶体结构及晶体缺陷分析、物质微区元素成分测定。

3.附件

 （1）一体化扫描透射(STEM)系统

    分辨率：0.2 nm （明场像线分辨率）   

    探头：高角环形暗场探头（HAADF）和明场探头  

    TEM与STEM模式相互切换后所需热稳定时间小于30秒   

    STEM放大倍数范围150x - 230Mx   

 （2）牛津公司电制冷能谱仪系统（X-Max80T）

    电制冷能谱探测器分辨率(Mn K线)：优于127eV(STD)

 （3）Gatan公司一体化CMOS相机及成像系统（OneView）

 （4）Hysitron PI95

 （5）Gatan公司EELS

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