石英晶体谐振器的定义
简称石英晶体或晶振，石英晶体是压电晶体的一种，利用石英晶体的压电效应实现频率控制、稳定或选择，所制成的电子元器件包括石英晶体谐振器、石英晶体振荡器和石英晶体滤波器。
根据引线状况可分为直插（有引线）与表面贴装（无引线）两种类型。
石英晶体谐振器的作用
主要特征是其原子或分子有规律排列，反映在宏观上是外形的对称性，在电场的作用下，晶体内部产生应力而形变，从而产生机械振动，获得特定的频率。
石英晶体谐振器AEC-Q200认证检测项目
应力测试前后电气测试
测试数量：573pcs
测试标准：UserSpec.用户规格
测试要求：需在25±5°C进行测试，除了适用的应力测试标准和表2中的附加要求指定之外。
高温存储测试
测试数量：77pcs
测试标准：MIL-STD-202 Method 108
测试要求：不通电，在大额定温度下放置器件1000小时。试验结束后24±4小时内进行测试。
温度循环测试
测试数量：77pcs
测试标准：JES D22 Method JA-104
测试要求：1000个循环（-55°C到+125°C）；试验结束后24±4小时内进行测试。 每个温度的停留时间不超过30分钟，转换时间不超过1分钟。
偏高湿度测试
测试数量：77pcs
测试标准：MIL-STD-202 Method103
测试要求：在温度85°C，湿度85%的条件下放置1000小时；施加额定的VDD和1MΩ，并联逆变器，在每个晶体脚和GND之间有2X的晶体CL电容器，试验结束后24±4小时内进行测试。
工作寿命测试
测试数量：77pcs
测试标准：MIL-STD-202Method108
测试要求：（1000h）稳定状态TA=125°，如果85℃的产品，应在其温度下进行。施加额定的VDD和1MΩ，并联逆变器，在每个晶体脚和GND之间有2X的晶体CL电容器； 试验结束后24±4小时内进行测试。
外观
测试数量：573pcs
测试标准：MIL-STD-883 Method 2009
测试要求：检查器件结构，标识和工艺质量，不要求电气测试。
尺寸
测试数量：30pcs
测试标准：JESD22MethodJB-100
测试要求：按适用的器件规格验证物理尺寸。注意：用户和供应商规格，不要求电气测试。
端子强度 （引脚）测试
测试数量：30pcs
测试标准：MIL-STD-202 Method-211
测试要求：只进行引脚和引脚牢固性测试。条件A(2.27g), C (227g)
溶剂抵抗测试
测试数量：5pcs
测试标准：MIL-STD-202 Method 215
测试要求：注意适用于被标识和/或涂层的器件。增加水洗清洗剂-OKEM清洗剂（6%浓度的Oakite清洗剂（表面活性剂及碱的混合物，包括苛性钠、硅酸盐及磷酸盐））或其它相同的溶剂。
机械冲击测试
测试数量：30pcs
测试标准：MIL-STD-202 Method 213
测试要求：条件C
振动测试
测试数量：30pcs
测试标准：MIL-STD-202Method204
测试要求：测试频率从10-2000赫兹，5g/s的力20分钟，三个方向每个方向12个循环。
抗焊接热试验
测试数量：30pcs
测试标准：MIL-STD-202Method210
测试要求：260±5℃，时间10±1s，浸入深度1.27mm
可焊性试验
测试数量：30pcs
测试标准：J-STD-002
测试要求：用于引脚和表面贴装元件，不需要电气测试，放大50倍。 引脚产品方法A @ 235℃ 表面贴装元件 方法B 4小时、155℃ 、干热235℃ 和 方法B215℃
电气特性测试
测试数量：30pcs
测试标准：用户规格书
测试要求：按批次和样品数量要求进行参数试验，总结列出室温下及低，高工作温度下器件的小值，大值，平均值和标准偏差。至少要测量低温度/室温/高温度下的参数CP,DF,IR。见参数表格中的建议。
可燃性试验
测试数量：20pcs
测试标准：UL-94
测试要求：V-0 或 V-1 可接受
板弯曲试验
测试数量：30pcs
测试标准：AEC-Q200-005
测试要求：只适用于MLCC,至少60秒的支撑时间
端子强度（表面贴装元件）测试
测试数量：30pcs
测试标准：AEC-Q200-006
测试要求：标准要求规定
注意：预前应力电气测试也作为电气特性。1000小时试验过程中需要在250和500小时进行间隔测量。
.png)
