标准简介
本部分适用于GB/T5080.1—2012中8.1和8.2所述的不修理产品或修理产品可靠性试验工作与环境条件试验周期的设计。 推荐的试验条件见GB/T7288—1987《设备可靠性试验 推荐的试验条件》。当“推荐的试验条件”不适用时,本部分给出了试验周期设计的一般程序,它为需要精确模拟实际使用条件的特定产品可靠性试验的试验周期设计规定了详细的步骤和方法。 按本部分设计的试验,一般不能代替通常的功能特性试验、环境试验和鉴定试验。 某些情况下,在应用以本部分所述方法设计的试验周期进行试验之前有必要进行预先暴露试验,而判定是否要进行预先暴露试验的根据并不在本部分描述。英文名称：Reliability testing - Part 2: Design of test cycles
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 5080.2-1986
中标分类：电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L05可靠性和可维护性
ICS分类：试验>>19.020试验条件和规程综合
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2012-11-05
实施日期：2013-02-15
出版日期：2013-02-15
页数：24页
前言
GB/T5080《可靠性试验》分为六个部分:———第1部分:试验条件和统计检验原理;———第2部分:试验周期设计;———第4部分:指数分布情况下的点估计、置信区间、预测区间和容许区间统计方法;———第5部分:成功率的验证试验方案;———第6部分:恒定失效率假设的有效性检验;———第7部分:恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案。注:上面所列之所以缺少第3部分,是因为对应于IEC的相应部分是国标GB/T7288。本部分为GB/T5080的第2部分。本部分根据GB/T1.1—2009和GB/T20000.2—2009给出的规则起草。本部分代替GB/T5080.2—1986《设备可靠性试验 试验周期设计导则》。本次修订没有技术内容上的改动。本部分使用翻译法等同采用IEC605-2:1994《设备可靠性试验 第2部分:试验周期设计导则》。本部分做了编辑性修改,编辑性差异主要体现在:———将标准的标题《设备可靠性试验 试验周期设计导则》修改为《可靠性试验 第2部分:试验周期设计》;———通篇“设备”改为“产品”;———增加了“规范性引用文件”的内容。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由全国电工电子产品可靠性与维修性标准化技术委员会(SAC/TC24)归口。本部分起草单位:工业和信息化部电子第五研究所、北京大学。本部分主要起草人:时钟、阳川、汪凯蔚、房祥忠。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:———GB/T5080.2—1986。
