标准简介
GB/T5594的本部分规定了陶瓷材料平均线膨胀系数测试的样品、测试设备、测试方法及报告格式。 本部分适用于电子元器件结构陶瓷材料的平均线膨胀系数的测试。英文名称：Test methods for properties of structure ceramicused in electronic components and device—Part 3:Test method for mean coefficient of linear expansion
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 5594.3-1985
中标分类：电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料
ICS分类：31-030
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2015-05-15
实施日期：2016-01-01
出版日期：2016-01-01
页数：8页
前言
GB/T5594《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法》的结构如下:———气密性测试方法(GB/T5594.1);———杨氏弹性模量 泊松比测试方法(GB/T5594.2);———第3部分:平均线膨胀系数测试方法(GB/T5594.3);———第4部分:介电常数和介质损耗角正切值测试方法(GB/T5594.4);———体积电阻率测试方法(GB/T5594.5);———第6部分:化学稳定性测试方法(GB/T5594.6);———第7部分:透液性测定方法(GB/T5594.7);———第8部分:显微结构测定方法(GB/T5594.8);———电击穿强度测试方法(GB/T5594.9)。本部分为 GB/T5594的第3部分。本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。本部分代替 GB/T5594.3—1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法》。本部分与 GB/T5594.3—1985相比,主要有下列变化:———标准名称改为:“电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法”;———4.1测试样品改为?3.5×50mm;———4.2套管和传递杆的材料从石英玻璃变化为石英玻璃或高温氧化铝陶瓷;———4.4测量范围从室温至800 ℃变化为室温至1200 ℃;———4.5线膨胀系数单位改为 K-1。请注意本文件的某些内容可能涉及专利,本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由中国电子技术标准化研究院归口。本部分起草单位:中国电子科技集团公司第十二研究所、河南济源兄弟材料有限公司、浙江温岭特种陶瓷厂。本部分主要起草人:高陇桥、黄国立、胡菊飞。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:———GB/T5594.3—1985。
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