GB 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法

百检网 2022-10-23

标准简介

本标准适用于测定电子器件结构陶瓷材料在频率1MHz、温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。
英文名称:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for dielectric loss angle tangent value
标准状态:作废
替代情况:被GB/T 5594.4-2015代替
中标分类:>>>>L32
ICS分类:31.030
发布部门:国家标准局
发布日期:1985-11-27
实施日期:1986-12-01
作废日期:2016-01-01
出版日期:1986-12-01
页数:4页

前言

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