标准简介
本标准适用于在非本征半导体单晶试样中确定载流子霍尔迁移率。为获得霍尔迁移率必须测量电阻率和霍尔系数，因此本标准也分别适用于这些参数的测量。本方法仅在有限的范围内和对锗、硅和砷化镓进行了实验室测量，但该方法也可适用于其他半导体单晶材料。所述的测量技术至少适用于室温电阻率高达104Ωcm的试样。英文名称：Extrinsic semiconductor single crystals; Measurement of Hall mobility and Hall coefficient
标准状态：作废
替代情况：被GB/T 4326-2006代替
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：29.040.30
发布部门：国家标准局
发布日期：1984-04-12
实施日期：1985-03-01
作废日期：2006-11-01
页数：11页
前言
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