标准简介
本标准规定的测量方法适用于非本征半导体单晶材料的霍尔系数、载流子霍尔迁移率、电阻率和载流子浓度。 本标准规定的测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓单晶材料进行了实验室测量，但该方法也可适用于其他半导体单晶材料，一般情况下，适用于室温电阻率高达104Ω·cm英文名称：Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 4326-1984
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：冶金>>金属材料试验>>77.040.01金属材料试验综合
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2006-07-18
实施日期：2006-11-01
出版日期：2006-11-01
页数：15页
前言
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