标准简介
本标准列出了适用于半导体器件(分立器件和集成电路)的试验方法。使用时可从中进行选择。对于非空腔器件，可以要求补充的试验方法。英文名称：Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices
标准状态：作废
替代情况：替代GB 4937-1986;被GB/T 4937.1-2006;GB/T 4937.2-2006代替
中标分类：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
ICS分类：电子学>>31.080半导体器件
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1995-01-02
实施日期：1996-08-01
作废日期：2007-02-01
出版日期：1996-08-01
页数：平装16开， 页数：35， 字数：65千字
前言
半导体分立器件综合相关标准
