GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则

百检网 2022-10-24

标准简介

本部分代替GB/T 4937-1995《半导体器件 机械和气候试验方法》第Ⅰ篇总则。本部分适用于半导体器件(分立器件和集成电路)并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。
英文名称:Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General
标准状态:现行
替代情况:替代GB/T 4937-1995
中标分类:电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
ICS分类:电子学>>31.080半导体器件
发布部门:国家质量监督检验检疫.
发布日期:2006-08-23
实施日期:2007-02-01
出版日期:2007-02-01
页数:6页

前言

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