标准简介
主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。英文名称：Measurement methods for chips of light emitting diodes
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L45微波、毫米波二、三*管
ICS分类：电子学>>31.260光电子学、激光设备
发布部门：工业和信息化部
发布日期：2009-11-17
实施日期：2010-01-01
出版日期：2010-01-01
页数：11页
前言
微波、毫米波二、三*管相关标准
