标准简介
本规范规定了半导体集成电路电压比较器（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理。本规范适用于半导体集成电路电压比较器电特性的测试。英文名称：Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for voltage comparators
标准状态：作废
替代情况：SJ/T 10805-1996(原标准号GB/T 6798-1986);被SJ/T 10805-2018代替
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
ICS分类：电子学>>31.100电子管
发布部门：信息产业部
发布日期：2000-12-28
实施日期：2001-03-01
作废日期：2018-04-01
出版日期：2001-02-01
页数：32页
前言
SJ/T 10734-1996 半导体集成电路文字符号 电参数文字符号
(增补版).png)
