JB/T 8271-2015 静电复印光导体表面缺陷比对版

百检网 2022-10-30

标准简介

本标准规定了静电复印光导体表面缺陷比对版的技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存的要求。本标准适用于静电复印(打印、传真、多功能)设备用的光导体的表面缺陷及在印品上对应的印迹缺陷的检测。
英文名称:Comparison scale for surface defect of photoconductor of electrostatic copying process
标准状态:现行
替代情况:替代JB/T 8271-1999
中标分类:仪器、仪表>>电影、照相、缩微、复印设备>>N47缩微复印机械
ICS分类:成像技术>>印制技术>>37.100.01印制技术综合
发布部门:工业和信息化部
发布日期:2015-04-30
实施日期:2015-10-01
出版日期:2015-10-01
页数:6页

前言

本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。本标准代替JB/T 8271-1999《静电复印感光体表面缺陷测试版》,与JB/T 8271-1999相比主要技术变化如下:——标准名称改为“静电复印光导体表面缺陷比对版”;——将范围中的感光体改为光导体,删除了硒鼓、硫化镉鼓等已不再使用的感光体(见第1章,1999年版的第1章);——增加了规范性引用文件(见第2章);——增加了制版胶片厚度的要求,修改了胶片透射度的要求(见3.1.1,1999年版的2.1.1和2.1.5);——修改了缺陷版的结构图及图样(见图1和图2,1999年版的图1和图2);——修改了缺陷版的结构及内容的描述(见3.1.2,1999年版的2.1.2);——修改了缺陷版基本尺寸及偏差(见表1,1999年版的表1);——修改了缺陷版的试验条件(见4.1,1999年版的3.1);——修改了缺陷版缺陷图的检测方法(见4.2.2、4.2.3,1999年版的3.2);——修改了制版胶片的检测方法(见4.2.1和4.2.2,1999年版的3.3);——删除了新产品鉴定及老产品改型的检验(1999年版的4.3);——修改了缺陷版的贮存环境温湿度(见6.5,1999年版的6.5);——删除了缺陷版的使用方法(1999年版的附录A)。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国复印机械标准化技术委员会(SAC/TC 147)归口。本标准起草单位:天津复印技术研究所、珠海天威飞马打印耗材有限公司、夏普办公设备(常熟)有限公司、佳能(中国)有限公司、无锡佳腾磁性粉有限公司、联想(北京)有限公司、柯尼卡美能达(中国)投资有限公司、上海富士施乐有限公司、理光图像技术(上海)有限公司深圳分公司、兄弟(中国)商业有限公司、三星电子(山东)数码打印机有限公司。本标准主要起草人:马燕、张希平、王强、鲁俊和、周学良、范志国、陈挺、仇相如、刘生应、麦洪琦、李妍。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:——JB/T 8271-1995(GB 10999-1989)、JB/T 8271-1999。

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