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检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象:半导体集成电路MOS随机存储器
检测项目:输入负载电流I<Sub>L1</Sub>
输入反向漏电流 <I>I</I><Sub>R</Sub> SJ/T 2215-2015 半导体光电耦合器测试方法
咨询报价
输入偏置电流<I>I</I><Sub>IB</Sub> SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法
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串联型电源SPD的额定负载电流(<I>I</I><SUB>L</SUB>)试验 TB/T 2311-2008 铁路信号设备用浪涌保护器
输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub> GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
输入失调电流<I>I</I><Sub>IO</Sub> SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法
输入负载电流 <I>I</I><Sub>LI</Sub> SJ/T 10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
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输入要求检测
输入试验检测
输入试验:单相检测
输入试验:含有音频放大器的设备检
输入试验:多相检测
输入试验:电视接收机和显示器检测
输入负向阈值电压<I>V</I>
输入负向阈值电压V<Sub>IT
输入负向阈值电压VIT检测
输入负载电流 <I>I</I><
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