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检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象:数字集成电路
检测项目:输入低电平电压<I>V</I><Sub>IL</Sub>
输入低电平电流 <I>I</I><Sub>IL</Sub> SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
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输入低电平电流I<Sub>IL</Sub> GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法
输入低电平电流<I> I</I><Sub>IL</Sub> SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub> GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
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输入、输出电压驻波比检测
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