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检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象:CMOS集成电路
检测项目:输入低电平电流IIL
检测标准:半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
检测对象:石英钟表电路
检测标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ 20961-2006 5.1.15
检测对象:集成电路A/D和D/A转换器
检测标准:半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
检测对象:数字集成电路
数字输入低电平电流IIL SJ/20961-2006 集成电路A_D和D_A转换器测试方法的基本原理 5.1.15节
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输入低电平电流IIL GB/T 15136-1994 半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理
输入低电平电流(IIL) GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
数字输入低电平电流IIL SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 5.1.15、5.2.14
数字输入高电平电流/数字输入低电平电流 SJ 20961-2006 《集成电路 A/D和D/A转换器测试方法的基本原理》 /5.1.15
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