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检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象:半导体集成电路霍尔效应数字开关电路
检测项目:输出漏电流I<Sub>OH
输出高电平电流I<Sub>OH</Sub> SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
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