百检检测可依据相应检测标准进行用消费材料检测等各种设备检测服务,亦可根据客户需求设计方案,为客户提供非标检测服务。百检检测为客户提供一站式检测服务及绿色解决方案的综合性第三方检测机构, 如有检测需求,欢迎您随时咨询。
检测周期:7-15个工作日出具检测设备检测报告。
检测费用:免费初检,根据客户检测需求以及实验复杂程度进行报价。
样品量大小:具体样品量需要根据客户的检测项目来决定,您可以咨询工程师。
检测地点
检测周期
报告资质
样品及邮寄要求
价格
实验室遍布全国,就近分配
可加急,最快1.5个工作日(特殊样品除外)
CMA、CNAS、CAL
样品支持快递取送/上门采样,数量及规格等视检测项而定
电议(检测的标准和检测项目数量不同而价格不同)
百检检测可依据相应检测标准进行用消费材料检测等各种设备检测服务,亦可根据客户需求设计方案,为客户提供非标检测服务。百检检测为客户提供一站式检测服务及绿色解决方案的综合性第三方检测机构, 如有检测需求,欢迎您随时咨询。
检测周期:7-15个工作日出具检测设备检测报告。
检测费用:免费初检,根据客户检测需求以及实验复杂程度进行报价。
样品量大小:具体样品量需要根据客户的检测项目来决定,您可以咨询工程师。
检测标准:半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
检测对象:PROM memory
检测项目:写数据参数
检测标准:半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
检测对象:PROM memory
检测项目:功能验证
检测标准:半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
检测对象:PROM memory
检测项目:最少写脉冲的持续时间(脉宽)
检测标准:半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
检测对象:PROM memory
检测项目:输入低电平
检测标准:半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
检测对象:PROM memory
检测项目:输入高电平
检测标准:半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
检测对象:PROM memory
检测项目:输出低电平